教育经历

1996-2000 工程系统工程系 北京航空航天大学 飞行器设计（可靠性）    本科

2000-2003 可靠性与系统工程学院  北京航空航天大学  飞行器设计（可靠性）    硕士

2007-2011 可靠性与系统工程学院 北京航空航天大学  系统工程    博士

工作经历

2003-2016   北航可靠性与系统工程学院 助教/讲师

2014-2015   哥伦比亚大学计算机系 国家公派访问学者

2016-2021   北航可靠性与系统工程学院   高级工程师

2021-2023   北航可靠性与系统工程学院   研究员

2023-至今   北航可靠性与系统工程学院   教授

兼职情况：

IEEE Transactions on Reliability, 编委（Associate Editor）

中国指挥与控制学会可靠性系统科学与工程专委会总干事

中国农业大学兼职教授/博导（人工智能方向）

中国航空工业计算机软件北航可靠性管理与测评中心副主任

杭州市北航国际创新研究院双聘教授/博导（人工智能/计算机/软件工程/电子信息/低空智能运载等方向）

联合国附属空间科技教育亚太区域中心（中国）双聘教授/博导（计算机/小卫星方向）

1.本科生课程：

[1]. 人工智能导论（2025春，2026春）

[2]. 软件与智能系统可靠性测试（2024秋、2025秋、2026秋）

[3]. 基于可穿戴设备的智能化健康监控（2023秋、2024秋、2025秋）

[4]. 智能系统安全（2026秋）

2.研究生课程：

无

1）复杂系统可靠性与安全性

2）可信软件、可信AI与智能测评

3）大模型与智能体、具身智能与群体智能

4）航空、航天、船舶、高铁、汽车、电网等行业应用

1.获奖情况

（1）中国指挥与控制学会创新奖（2025，排名1）

（2）中国指挥与控制学会技术发明一等奖（2024，排名1）

（3）国际发明金奖（2025，排名1）

（4）省部级科技进步一等奖（2019，排名1）

（5）国家科学技术学术著作出版基金（2025，排名1）

2.发明专利

（1）一种可靠性、弹性、脆性的系统状态评估方法

（2）基于深度学习的空间辐射环境下软件可靠性等效评估方法

（3）基于自适应共振拓扑网络的多目标测试数据生成方法

（4）基于贝叶斯自适应共振的多目标多模态粒子群优化方法

（5）一种基于随机共振和任务迁移的多应力测试方法

3.代表性论文

（1）Yang, M., Yang, S.*, & Wong, W. E. (2024). Multi-objective Software Defect Prediction via Multi-source Uncertain Information Fusion and Multi-task Multi-view Learning. IEEE Transactions on Software Engineering.

（2）Bian, C., Han, X., Duan, Z., Deng, C., Yang, S.*, & Feng, J. (2024). Hybrid prompt-driven large language model for robust state-of-charge estimation of multi-type li-ion batteries. IEEE Transactions on Transportation Electrification.

（3）Gou, X., Zhang, A., Wang, C., Liu, Y., Zhao, X., & Yang, S.* (2024). Software fault localization based on network spectrum and graph neural network. IEEE Transactions on Reliability.

（4）Bian, C., Yang, S.*, Xu, Q., & Feng, J. (2023). Holistic Transmission Performance Prediction of Balise System With Gate-Steered Residual Interweave Networks. IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics: Systems

（5）Shao, Q., Yang, S.*, & Gou, X. (2020). Formal analysis of multiple-cell upset failure based on common cause failure theory. IEEE Transactions on Reliability, 70(4), 1495-1509